分立器件失效分析报告
日期：2023-07-31 13:59:02浏览量：660作者：创芯在线检测中心
综上测试分析（F2）样品失效是由于 EOS/ESD 损伤导致，由于 F1 样品与 F2 样品失效均表现短路，因此，进一步分析推测样品失效均可能是由于过压导致产品被击穿造成 EOS损伤引起失效。
日期：2023-07-31 13:59:02浏览量：660作者：创芯在线检测中心
综上测试分析（F2）样品失效是由于 EOS/ESD 损伤导致，由于 F1 样品与 F2 样品失效均表现短路，因此，进一步分析推测样品失效均可能是由于过压导致产品被击穿造成 EOS损伤引起失效。
全国热线
4008-655-800
CXOLab创芯在线检测实验室
深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路393号英达丰工业园A栋2楼
深圳市福田区华强北街道振华路深纺大厦C座3楼N307
粤ICP备2023133780号创芯在线 Copyright © 2019 - 2024
友情链接：
创芯在线 Copyright © 2019 - 2024
