在对电子器件小型化要求不断提高的情况下，单片功能不断增加。目前的工艺中，为保证芯片的质量，一般都是从设计成型到大规模生产的过程中进行芯片检测。而传统的芯片调试技术是在芯片功能基础上增加一套以功能为导向的测试程序，它一般只能检测芯片有无错误或故障，无法在芯片终端上精确地定位出错误，只有根据检测人员的经验来判断，这样就会造成芯片检测速度慢、效率低。由于每个功能元件都有其自身的测试要求，设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。

2022-06-01 15:20:14

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