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探讨IC芯片老化试验及其作用
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IC芯片老化试验是指在特定条件下对集成电路芯片进行长时间的稳定性测试，以验证其在使用寿命内的可靠性和稳定性。其主要作用是评估芯片的寿命和性能，以提高芯片的质量和可靠性。

2024-01-23 15:48:33
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