扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscopy，SEM）是一种高分辨率的显微镜技术，利用电子束与样品相互作用产生的信号来观察样品表面的形貌、结构和成分等。本文将介绍扫描电子显微镜的原理和应用。

2023-10-19 17:18:24

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扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种高分辨率的电子显微镜，可以用于对样品表面进行高分辨率成像和化学分析。SEM的原理是利用电子束与样品表面的相互作用，产生二次电子或背散射电子信号，通过探测器进行信号检测和成像。SEM具有高分辨率、高灵敏度、高深度分辨率和化学分析等优点，广泛应用于材料科学、生物学、地质学、电子学等领域。

2023-08-08 17:30:00

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SEM扫描电镜并非通过直接观测来获得样品信息，而是通过发射电子束对样品进行激发，并利用背散射或二次电子探测器对被观测物体的成分和形貌进行分析。要获得准确的结果，测试样品必须符合一定的要求。以下是扫描电镜对测试样品的要求：

2023-08-04 15:37:00

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电子显微镜（Electron Microscope，EM）是一种利用电子束来成像的显微镜，与光学显微镜相比，电子显微镜具有更高的分辨率和更大的放大倍数。电子显微镜可以分为透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）和扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）两种类型。本文将重点介绍SEM的结构组成。

2023-07-20 15:11:00

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