失效分析相关资讯
芯片失效分析怎么做?失效分析基本步骤及常用设备简介
随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。
2021-04-27 15:57:00
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谈谈电子元器件的失效分析和故障原因
电路故障是每个工程师都比较头疼的事情,电子元器件在使用过程中,也会出现失效和故障,从而影响设备的正常工作。下面就来了解一下电子元器件的失效分析和故障原因。如果熟悉了元器件的故障类型,有时通过直觉就可迅速的找出故障元件,有时只要通过简单的电阻、电压测量即可找出故障。
2021-04-27 15:35:00
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汇总:半导体失效分析测试的详细步骤
失效分析是芯片测试重要环节,无论对于量产样品还是设计环节亦或是客退品,失效分析可以帮助降低成本,缩短周期。 常见的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因为失效分析设备昂贵,大部分需求单位配不了或配不齐需要的设备,因此借用外力,使用对外开放的资源,来完成自己的分析也是一种很好的选择。我们选择去外面测试时需要准备的信息有哪些呢?下面为大家整理一下:
2021-04-26 16:29:00
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