开云官方入口官网下载安装
应用领域
kaiyun全站官方网站
新闻动态
关于我们
登录 注册
EN
元器件封装相关资讯
image
在超声波显微镜（SAT）检测：捕捉元器件封装内部缺陷

超声波显微镜，英文名Scanning Acoustic Tomography，简称SAT。超声波发射后传递到样品封装内部，如遇到任何缺陷点都会表现在反射波的形态中。设备根据反射波的形态计算出图像，检测人员可快速锁定缺陷的位置、尺寸和类型。

2022-11-09 17:09:00
查看详情
热门文章
什么是电气性能？电气性能测试包括什么? UV测试是什么？UV测试通用检测标准及流程 芯片开盖(Decap)检测的有效方法及全过程细节 焊缝检测探伤一级二级三级标准是多少？ 芯片切片分析是什么？如何进行切片分析试验？ CNAS认证是什么?实验室进行CNAS认可的目的及意义 温升测试(Temperature rise test)-电性能测试 芯片烧录程序烧不进？造成烧录不良的原因分析 smt元器件烘烤标准：怎样对芯片进行烘烤处理?
热门标签
全国热线

4008-655-800

CXOLab创芯在线检测实验室

深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路393号英达丰工业园A栋2楼

深圳市福田区华强北街道振华路深纺大厦C座3楼N307

粤ICP备2023133780号创芯在线 Copyright © 2019 - 2024

开云官方入口官网下载安装
应用领域
kaiyun全站官方网站
新闻动态
关于开云全站体育

友情链接：

Baidu
map