电子元器件失效分析是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象,分辩其失效模式和失效机理,并最终确认其失效原因。提出改善设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件的可靠性。因此,开展失效分析,必须首先在开发、生产、工程等阶段建立失效信息和失效器件的收集制度。
一般来说,芯片在研发、生产过程中出现错误是不可避免的。失效分析是判断产品的失效模式,查找产品失效机理和原因,提出预防再失效对策的技术活动和管理活动。随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,社会的发展就是一个发现问题解决问题的过程,出现问题不可怕,但频繁出现同一类问题是非常可怕的。
失效就意味着电路可能出现故障,从而影响设备的正常工作。电子设备中大部分故障,究其原因都是由于电子元器件失效引起的。电子元器件主要包括元件和器件,电子元件是生产加工过程中分子成分不被改变的成品,比如:电容、电阻和电感等。电子器件是生成加工过程中分子结构发生变化的成品,比如:电子管、集成电路等。
失效分析是一门发展中的新兴学科,近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。其方法分为有损分析,无损分析,物理分析,化学分析等。
失效分析是指分析研究构件的断裂,表面损伤及变形等失效现象的特征及规律的一门技术。在提高元器件质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义,是根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出元器件失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。方法分为有损分析,无损分析,物理分析,化学分析等。
失效是指电子元器件出现的故障。各种电子系统或者电子电路的重要组成部分一般是不同类型的元器件,当它需要的元器件较多时,则标志其设备的复杂程度就较高;反之,则低。一般还会把电路故障定义为:电路系统规定功能的丧失。失效分析通过电学、物理与化学等一系列分析技术手段获得电子产品失效机理与原因的过程。基于获得的失效机理和原因,可以采取针对性的改进措施,提升产品的可靠性与成品率,缩短研发周期,铸就好的品牌,解决技术纠纷,节约成本等。
电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象,分辨其失效模式和失效机理,确定其最终失效的原因,提出改进设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件可靠性。失效分析是产品可靠性工程的一个重要组成部分。失效分析被广泛应用于确定研制生产过程中生产问题的原因,鉴别测试过程中与可靠性相关的失效,确认使用过程中的现场失效机理。
失效分析是产品可靠性工程的一个重要组成部门。失效分析被广泛应用于确定研制出产过程中出产题目的原因,鉴别测试过程中与可靠性相关的失效,确认使用过程中的现场失效机理。在电子元器件的研制阶段,失效分析可纠正设计和研制中的错误,缩短研制周期;在电子元器件的出产、测试和使用阶段,失效分析可找出电子元器件的失效原因和引起电子元器件失效的责任方。失效分析方法主要有哪几种呢?接下来一起看看吧。