扫描式电子显微镜(SEM)

描述：

扫描式电子显微镜(Scanning Electron microscopy, SEM)主要是利用微小聚焦的电子束(Electron Beam)进行样品表面扫描，激发样品产生各种物理信号，如二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子等，SEM主要就是收集从表面发出的二次电子形成样品的表面图像。

测试范围：