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结构(Configuration)
描述: 结构测试是参照对比被试器件总体结构的基准照片、草图或图纸。测试中应包括关键尺寸、各组成零件的位置、以及有关的材料和工艺细节。参照文件应是现行使用的,以便能反映出在结构方面已批准的任何变化。
应用范围:微电子器件。
外部和内部目视图片:
外部和内部目视设备图片:
描述: 结构测试是参照对比被试器件总体结构的基准照片、草图或图纸。测试中应包括关键尺寸、各组成零件的位置、以及有关的材料和工艺细节。参照文件应是现行使用的,以便能反映出在结构方面已批准的任何变化。
应用范围:微电子器件。
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