描述:依据测试标准要求,使用利器在芯片表面来回刮擦,检查刮擦后的表面,是否存在非测试前的其标识,辅助外观检测以判断芯片标识是否翻新。
应用范围:所有塑封器件。
刮擦测试图片:
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