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失效分析
超声波扫描 (SAT检测)
描述： 超声波显微镜，英文名Scanning Acoustic Tomography，简称SAT。超声波显微镜分析是无损的检测方式，其通过图像及声波对比度判别样品内部分层、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位等。同时可以检测集成电路表面丝印打字重影、表面打磨、重新喷涂的真伪检测。
我们的优势：
开云全站体育 中心已配置低频15MHz、30MHz、50MHz、75MHz、到高频100MHz、230MHz等全系探头，可满足集成电路SOP、DIP、PLCC、TO、QFP、BGA 、 SOT、QFN、TQFP、DFN、Flip Chip、WLCSP、FCBGA等不同封装的集成电路及PCB板、IGBT、电容的检测需求。
超声波扫描设备图片：
案例分享：
1.SOP封装异常案例
内引脚、基板表面与塑封界面间发现分层异常（反射模式视图）
内引脚、基板表面与塑封界面间发现分层异常（反射模式波形视图）
2.TO封装异常案例
晶圆、基板表面与塑封界面间发现分层异常（反射模式视图）
晶圆、基板表面与塑封界面间发现分层异常（反射模式波形视图）
3.QFP封装异常案例
内引脚、基板表面与塑封界面间发现分层异常（反射模式视图）
内引脚、基板表面与塑封界面间发现分层异常（反射模式波形视图）
4.真伪检测异常案例
样品表面丝印打字重影，边缘打磨痕迹异常（反射模式视图）
5.IGBT检测案例
第一层:散热铜基板与DBC陶瓷基板底部覆铜层之间的焊接面;
第二层: DBC陶瓷基板底部覆铜层与陶瓷之间的界面;
第三层:DBC陶瓷基板陶瓷与上部覆铜层之间的界面;
第四层: DBC陶瓷基板陶瓷上部覆铜层与芯片之间的焊接面;
