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可靠性验证
HALT试验（Highly accelerated life test）
描述：
HALT（高加速寿命测试）：Highly accelerated life test是一种发现设计缺陷的工序，它通过设置逐级递增的加速环境应力，来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到提升可靠性的目的，较大的特点是设置样品设计运行限的环境应力，从而从暴露故障的时间大大短于正常可靠性应力条件下的所需时间。
目的：
在HALT试验中可找到被测物在温度及振动应力下的可操作界限与破坏界限；为开发人员改进产品设计方案提供依据，以对产品设计缺陷进行及时的修正；并为HASS的应力类型和应力量级的选择提供依据。
作用：
快速发现产品设计、制程上的薄弱点；帮助提高产品设计的欲度；有效地提高产品的可靠性；节省设计时间和费用；帮助排除产品设计的问题；帮助评估产品设计的变更。
原理：
测试没有通过与不通过的评定标准；所有的样品需要测试到失效为止；测试中，样品需要被实时监测；测试中发现的任何问题都需要进行分析，找出失效原因；该测试结果不能用来量化产品的可靠性。
应用范围：
电子、元器件、电路板等电工电子产品零部件。
试验项目：
