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可靠性验证
- 车载集成电路可靠性验证
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- 环境类试验
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间歇工作寿命试验(IOL)
描述： 间歇工作寿命试验利用芯片的反复开启和关闭引起的反复高温和低温，加速芯片内各种组件材料和结合面的热机械应力，验证封装、内部键合等承受由芯片操作引起的热机械应力能力。
失效模式：器件内部键合异常。
应用范围：汽车电子标准AEC半导体分立器件。
检测设备图片：
