可靠度板阶恒加速试验

描述： 恒加速试验的目的, 用来确定恒定加速度对微电子器件的影响, 补充在机械冲击和振动试验过程中不一定能被检测出来的样品本身结构和机械类型的缺陷，同时也可用于作为高应力试验来检定封装、内部键合、芯片或基板的焊接以及一些其它部件的极限机械强度。从而补强现有机械冲击与振动外, 对机械结构的极限验证目的。

芯片产品经受稳态加速度（恒加速度）环境所产生的力（重力除外）的作用下, 结构的适应性和性能是否良好, 以及评价一些元器件的结构完好性, 并且在稳态加速度（恒加速度）环境下考核试品的电参数。

该设备加速度范围：5000(g)∽40000(g)，符合汽车电子标准（AEC）定义条件, < 40 Pin使用30000（g）, 且完全满足常规芯片尺寸范围。