失效是指电子元器件出现的故障。各种电子系统或者电子电路的重要组成部分一般是不同类型的元器件，当它需要的元器件较多时，则标志其设备的复杂程度就较高；反之，则低。一般还会把电路故障定义为：电路系统规定功能的丧失。

2022-02-23 16:54:13

查看详情

电子设备的核心是电路板，而电路板则是由各种类型的电子元器件焊接组装而成，如果设备发生故障或者出现短路，缘由大部分会出现在电子元器件失效或者损坏引起的。接下来第三方检测机构就给大家介绍下电路板元器件的故障判断及检测方法，不妨继续往下阅读。

2022-02-23 16:35:42

查看详情

电子元件的发展历史实际上是电子发展的简史。电子技术是一种新技术，在二十世纪，它发展最快，使用最广泛，它已成为现代科学技术发展的重要标志。为了促进电子信息技术的进一步发展，就要提高电子元器件的可靠性，因此掌握电子元器件失效分析的技术就变得十分必要。

2022-02-23 16:27:27

查看详情

首先看看什么是老化测试？在老化测试期间，特殊老化电路板上的组件会承受等于或高于其额定工作条件的压力，以消除在额定寿命之前过早失效的任何组件。这些测试条件包括温度、电压/电流、操作频率或任何其他被指定为上限的测试条件。这些类型的压力测试有时被称为加速寿命测试（HALT/HASS 的一个子集），因为它们模拟组件长时间在极端条件下的运行。

2022-02-22 15:47:10

查看详情

什么是UV测试？UV测试又称UV老化测试，是模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程，它可以再现阳光、雨水和露水所产生的破坏，短时间内得到产品的使用寿命。设备通过将待测材料曝露在经过控制的阳光和湿气的交互循环中，同时提高温度的方式来进行试验。

2022-02-22 15:32:17

查看详情

无损检测是利用物质的声、光、磁和电等特性，在不损害或不影响被检测对象使用性能的前提下，检测被检对象中是否存在缺陷或不均匀性，给出缺陷大小，位置，性质和数量等信息。随着检测要求的不断提高，无损检测技术已广泛采用数字技术并已逐步进入测量领域，如对几何量和材料特性参数的测量，有必要按照一定程序对仪器指标的持续稳定进行监视和控制，以提高检测结果的可靠性。

2022-02-21 14:29:00

查看详情

IC芯片外观检测系统在IC集成芯片器件生产过程中，芯片的外观质量检测是其中一项必不可少的环节，包括芯片的引脚尺寸、残缺、偏曲、间距不均、平整度差等检测项目，而上述质量问题会直接影响电路产品的质量。外观缺陷的自动检测需要使用电子元件外观检测设备，那么，电子元器件的外观瑕疵缺陷如何检测呢？

2022-02-21 14:00:00

查看详情

低温试验主要用于评价在储存、工作和拆装操作期间，低温条件对装备的安全性、完整性和性能的影响。确定低温试验顺序，需遵循两个原则：最大限度地利用装备的寿命期限和施加的环境应能最大限度地显示叠加效应。

2022-02-21 13:39:29

查看详情

超声波检测也叫超声检测、超声波探伤，是无损检测的一种。无损检测是在不损坏工件或原材料工作状态的前提下，对被检验不见的表面和内部质量进行检查的一种检测手段。超声波无损探伤(NDI)是超声无损检测的一种发展与应用，其设备有：超声探伤仪、探头、藕合剂及标准试块等。其用途是检测铸件缩孔、气泡、焊接裂纹、夹渣、未熔合、未焊透等缺陷及厚度测定。

2022-02-21 13:25:02

查看详情

开年首月至春节期间，市场部分ST、TI品牌物料到货，加上淡季效应，缺货势头略减。但从晶圆代工不断涨价来看，缺货基调没有改变。此外，这期间两笔业内大额并购以失败画上句号。由于垄断争议难以规避，外加缺芯大潮的敏感时局，这两桩并购本来就难以通过，此番画上句号，业内对它们的关注与争议也可告一段落。

2022-02-18 16:33:19

查看详情