通常,为评估分析电子产品的可靠性所做的试验称为可靠性试验。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。根据可靠性统计试验所采用的方法和目的,可靠性统计试验可以分为可靠性验证试验和可靠性测定试验。可靠性测定试验是为测定可靠性特性或其量值而做的试验,通常用来提供可靠性数据。也可能会暴露产品在设计、原料和工艺过程中出现的问题。可靠性验证试验是用来验证设备的可靠性特征值是否符合其规定的可靠性要求的试验,一般将可靠性鉴定和验收试验统称为可靠性验证试验。
1.如以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验;
2.以试验项目划分,可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验;
3.若按试验目的来划分,则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验;
4.若按试验性质来划分,也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类。
5.但通常惯用的分类法,是把它归纳为五大类:
A.环境试验
B.寿命试验
C.筛选试验
D.现场使用试验
E.鉴定试验
可靠性是与电子工业的发展密切相关的,其重要性可从电子产品发展的三个特点来加以说明。
首先,电子产品的复杂程度在不断增加。人们最早使用的矿石收音机是非常简单的,随之先后出现了各种类型的收音机、录音机、录放相机、通讯机、雷达、制导系统、电子计算机以及宇航控制设备,复杂程度不断地增长。电子产品复杂程度的显著标志是所需元器件数量的多少。而电子产品的可靠性决定于所用元器件的可靠性,因为电子产品中的任何一个元器件、任何一个焊点发生故障都将导致系统发生故障。一般说来,电子产品所用的元器件数量越多,其可靠性问题就越严重,为保证产品或系统能可靠地工作,对元器件可靠性的要求就非常高、非常苛刻。
其次,电子产品的使用环境日益严酷。从实验室到野外,从热带到寒带,从陆地到深海,从高空到宇宙空间,经受着不同的环境条件,除温度、湿度影响外,海水、盐雾、冲击、振动、宇宙粒子、各种辐射等对电子元器件的影响,导致产品失效的可能性增大。
第三,电子产品的装置密度不断增加。从第一代电子管产品进入第二代晶体管,现已从小、中规模集成电路进入到大规模和超大规模集成电路,电子产品正朝小型化、微型化方向发展,其结果导致装置密度的不断增加,从而使内部温升增高,散热条件恶化。而电子元器件将随环境温度的增高,降低其可靠性,因而元器件的可靠性引起人们的极大重视。
可靠性已经列为产品的重要质量指标加以考核和检验。长期以来,人们只用产品的技术性能指标作为衡量电子元器件质量好坏的标志,这只反映了产品质量好坏的一个方面,还不能反映产品质量的全貌。因为,如果产品不可靠,即使其技术性能再好也得不到发挥。从某种意义上说,可靠性可以综合反映产品的质量。
可靠性工程是一个综合的学科,它的发展可以带动和促进产品的设计、制造、使用、材料、工艺、设备和管理的发展,把电子元器件和其它电子产品提高到一个新的水平。正因为这样,可靠性已形成一个专门的学科,作为一个专门的技术进行研究。
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