低温试验主要用于评价在储存、工作和拆装操作期间，低温条件对装备的安全性、完整性和性能的影响。确定低温试验顺序，需遵循两个原则：最大限度地利用装备的寿命期限和施加的环境应能最大限度地显示叠加效应。目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制，是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。低温下材料物理化学性能。标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。
低温条件下试件的失效模式：产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。
低温试验的测试条件：
低温温度点、低温试验时间、温度变化速率。
低温试验的时间：
低温工作试验一般至少为2小时，贮存为12小时或24小时等，测试时长根据产品实际运用的环境以及相关标准有明晰的规定，这个测试时间可以根据实际情况进行选择。
低温工作试验一般比低温贮存试验的温度点相对宽松，工作或启动试验属于要通电进行性能测试，相对严苛。
低温环境试验属于极限应力的环境适应性试验测试类型，在进行试验前，需要明确了解用户方以及相关标准对于产品的低温实验要求。
低温的影响
1、使材料发硬变脆；
2、润滑剂粘度增加，流动能力降低，润滑作用减小；
3、电子元器件性能发生变化；
4、水冷凝结冰；
5、密封件失效；
6、材料收缩造成机械结构变化。
应用范围
低温测试主要用于科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子元件、化工材料等特殊材料的低温实验及储存。
低温试验标准
电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 A：低温 GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007
包装 运输包装件基本试验 第 2 部分：温湿度调节处理GB/T 4857.2－2005，ISO 2233:2000
汽车电气设备基本技术条件 QC/T 413-2002
电子测量仪器通用规范 GB/T 6587-2012
计算机通用规范 第 1 部分：台式微型计算机 GB/T9813.1-2016
计算机通用规范 第 2 部分：便携式微型计算机GB/T 9813.2-2016
计算机通用规范 第 3 部分：服务器 GB/T 9813.3-2017
计算机通用规范 第 4 部分：工业应用微型计算机 GB/T9813.4-2017
军用装备实验室环境试验方法 第 4 部分：低温试验 GJB150.4A-2009
