现代5G、车联网等技术的飞速发展，信号的传输速度越来越快，集成电路芯片的供电电压随之越来越小。早期芯片的供电通常是5V和3.3V，而现在高速IC的供电电压已经到了2.5V、1.8V或1.5V，有的芯片的核电压甚至到了1V。芯片的供电电压越小，电压波动的容忍度也变得越苛刻。芯片该怎么测量电压呢?
1、如果坏的话最常见的也是击穿损坏，你可以用万用表测量一下芯片的供电端对地的电阻或电压，一般如果在几十欧姆之内或供电电压比正常值低，大部分可以视为击穿损坏了，可以断开供电端，单独测量一下供电是否正常。如果测得的电阻较大，那很可能是其他端口损坏，也可以逐一测量一下其他端口。看是否有对地短路的端口。
2、专门具有检测IC的仪器，万用表没有这个能力。一般使用万用表都是检测使用时的引脚电压做大约的判断，没有可靠性。并且是在对于这款IC极其熟悉条件下做判断。
_20211220171943_132.jpg "电压测试芯片:低压检测复位IC工作原理")
当内建的低电压复位电路的电压与应用规格不同时，可选用外部低电压检测IC 的复位电路。
• 可提供低电压复位功能，需配合外部简易型RC 复位电路或高抗干扰RC 复位电路来达到完整的复位功能。
• RRES、CRES、RN 和CN 的建议数值与简易型RC 复位电路及高抗干扰RC 复位电路相同。
• CRES(针对简易型RC 复位电路)和CN(针对高抗干扰RC 复位电路)在PCB 板上的位置及布线要求与简易型RC复位电路及高抗干扰RC 复位电路相同。
内部POR 电路和内部低电压复位电路
• 为加强MCU 的保护完整性，并简化外部应用电路设计及成本，在MCU 内部提供有上电复位(POR)电路和低电压复位(LVR)电路。
• POR 电路主要是内建一组低RC 时间常数的复位电路，具有上电时产生复位的功能。其对MCU 内部的初始化动作，除了TO 和PDF 旗标被清为“0”之外，其余的状态均与RES 复位相同。当使用此复位功能时，因POR 时间常数较小，为了使POR 可以正常动作，电源上升速度应尽量要求快速。
• LVR 电路主要功能是当VDD 小于特定电压(视规格而定)，且持续时间大于1ms 时，LVR 将会被激活，其对MCU 内部的初始化动作与RES 复位相同。
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