现阶段，市场只关心我们能不能造出来芯片。但随着芯片行业的成熟，市场未来的关注点势必会调整至我们能不能高效的制造芯片。虽然测试的市场份额仅占整个芯片制造产业链的6%，但其仍是一个十分重要的行业，甚至直接关乎芯片成品的品质，稍有不慎就会造成无法估量的后果。对于一款产品而言，或许在上市初期市场更关注它的性能，但从长期来看，决定产品长期价值的依然还是品质。
什么是芯片测试？顾名思义，芯片测试就是芯片制造过程中，检测厂商通过专业的仪器对生产中的芯片半成品进行测试，以此提升良品率的环节。
每一颗进入市场的芯片，都必须经过测试才能够最终上市，因此芯片测试环节实际有着巨大的市场需求。很多怀有偏见的投资者认为，测试只不过是芯片封装的后的例行公事，但实际上它的价值远不止于此。
按照制造流程划分，芯片测试可以分为晶圆测试（简称中测）和成品测试（简称成测）两种，他们的诉求都是确保终端产品良品率的提升，从而实现控制成本的目的。
X-RAY的定义
X射线是一种波长很短的电磁波，波长范围为0.0006一80nm，具有很强的穿透力，能穿透一般可见光不能穿透的各种不同密度的物质。
X-射线原理
X光射线(以下简称X-Ray)是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击，在撞击过程中，因电子突然减速，其损失的动能会以X-Ray形式放出，其具有非常短的波长但高电磁辐射线。而对于样品无法以外观方式检测之位置，利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化，产生之对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构，进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题之区域。
X-RAY射线的应用
1、使用目的：
金属材料及零部件、塑胶材料及零部件、电子元器件、电子组件、LED元件等内部的裂纹、异物的缺陷检测，BGA、线路板等内部位移的分析；判别空焊，虚焊等BGA焊接缺陷，微电子系统和胶封元件，电缆，装具，塑料件内部情况分析。
2、应用范围：
1)IC封装中的缺陷检验如：层剥离、爆裂、空洞以及打线的完整性检验；
2)印刷电路板制程中可能产生的缺陷，如：对齐不良或桥接以及开路；
3)SMT焊点空洞现象检测与量测；
4)各式连接线路中可能产生的开路，短路或不正常连接的缺陷检验；
5)锡球数组封装及覆芯片封装中锡球的完整性检验；
6)密度较高的塑料材质破裂或金属材质空洞检验；
7)芯片尺寸量测，打线线弧量测，组件吃锡面积比例量测。
测试步骤：确认样品类型/材料的测试位置和要求→将样品放入X-Ray透视仪的检测台进行X-Ray透视检测→图片判断分析→标注缺陷类型和位置。但是由于材料性质，设备会受到一定的限制，如IC封装中是铝线或材料材质密度较低会被穿透而无法检查。
3、参考标准
5135Z-SX8-T000 焊接强度试验基准
GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序
IPC-A-610E-2010 中文版 电子组件的可接受性-3部分
以上便是此次开云全站体育 带来的“芯片x-ray缺陷检测”相关内容，通过本文，希望能对大家有所帮助。如果您喜欢本文，不妨持续关注我们网站，我们将于后期带来更多精彩内容。如您有任何电子产品检验测试的相关需求，欢迎致电开云全站体育 ，我们将竭诚为您服务。
