工业ct无损检测铸件帮助改进生产工艺

日期:2021-09-08 11:32:36浏览量:1069标签:无损检测

铸件检验就是根据用户要求和图纸技术条件等有关协议的规定,用目测、量具、仪表或其它手段检验铸件是否合格的操作过程。铸件晶粒粗大、透声性差,信噪比低,探伤会比较困难,它是利用具有高频声能的声束在铸件内部的传播中,碰到内部表面或缺陷时产生反射而发现缺陷。反射声能的大小是内表面或缺陷的指向性和性质以及这种反射体的声阻抗的函数,因此可以应用各种缺陷或内表面反射的声能来检测缺陷的存在位置、壁厚或者表面下缺陷的深度。

对于铸件的内部缺陷,常用无损检测方法是射线检测和超声检测。常见的铸件内部缺陷包括收缩孔隙率,收缩孔隙率,气泡和夹杂物。根据射线照相结果,对铸件的内部缺陷进行分类,并判断合格与不合格。

其中射线检测效果最好,它能够得到反映内部缺陷种类、形状、大小和分布情况的直观图像,但对于大厚度的大型铸件,超声检测是很有效的,可以比较精确地测出内部缺陷的位置、当量大小和分布情况。

铸件质量检验主要包括哪些内容?

(1) 相关技术条件的检验。包括铸件化学成分、机械性能等检验内容。机械性能检验和金相及化学成分检验等技术条件的检验,均必须按相关国家标准执行检验(此处略)。

(2)表面质量检验。机械加工生产一线人员在工艺过程中对铸造毛坯的检查主要是对其外观铸造缺陷(如有无沙眼、沙孔、疏松、有无浇不足、铸造裂纹等)的检验;以及毛坯加工余量是否满足加工要求的检验。

(3)铸件成品几何尺寸检验。主要一种是采用划线法检查毛坯的加工余量是否足够。另一种方法是:用毛坯的参考基准面(也称工艺基准面)作为毛坯的检验基准面的相对测量法(需要测量相对基准面的尺寸及进行简单换算)。

但是,对于具有复杂且不规则形状和内部结构的铸件,X射线射线照相(RT)或超声方法(UT)不再适用于内部缺陷检测。工业CT不受样品结构形状的影响,CT和RT通常会提供更多的缺陷信息。这是因为RT中信息会重叠,从而降低了灵敏度,而CT中则可以消除这些因素。

工业ct无损检测铸件帮助改进生产工艺

无损探伤检测工业ct

(1)CT对铸件的检测具有很高的分辨率,是目前最准确,可靠的无损评估方法之一;

(2)三维成像检测可以观察铸件内部缺陷的空间形状,实现任意截面密度和内部结构尺寸的测量,解决了两者的扫描断层方向和断层不连续性的局限性体层析成像。一种非常重要的计算机辅助评估方法。

(3)解决了与快速原型的接口问题,从而实现了在逆向工程中的应用,缩短了航天模具的设计,产品开发和生产周期。

CT可以确定试件内部的松动,气孔,缩孔和裂缝的大小和位置。对于缺陷的分类和评估,深入的信息非常有用。由于可以通过工业CT获得试件的所有空间信息和缺陷信息,因此可以更准确地判断缺陷,并且可以减少错误判断或错误判断。如今铸件已经广泛应用在航空和航天,包括铝合金,镁合金钛合金和高温合金等行业。与铸造和毛坯加工以形成工件相比,铸件成本低并且可以形成非常复杂的形状,这对于加工技术而言是困难的。大多数铸件都有缺陷,有些甚至严重到影响整个铸件的性能。因此,必须执行无损检测以确保其质量。

相关阅读
五月芯资讯回顾:原厂涨价函不断,疫情影响供应链
五月芯资讯回顾:原厂涨价函不断,疫情影响供应链

刚刚过去的五月,全球多地疫情反弹,大宗商品涨价延续,IC产业链毫无意外,缺货涨价仍是主旋律。下面就来梳理一下过去的一个月,业内都有哪些值得关注的热点。

2021-06-04 11:16:00
查看详情
image
马来西亚管控延长,被动元件又悬了?

自五月以来,马来西亚疫情不断升温,每日新增确诊高峰曾突破9000例。严峻形势之下,马来西亚政府于6月1日开始执行为期半个月的全面行动管制。在这之后,每日新增病例呈现下降趋势。

2021-06-18 15:41:07
查看详情
内存市场翻转,涨价来袭!
内存市场翻转,涨价来袭!

据媒体近日报道,内存正在重回涨价模式,从去年12月到今年1月,涨幅最多的品种已达30%。据行情网站数据,各类内存条、内存颗粒在12月上旬起开始涨价,至今仍没有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看详情
被动元件涨价启动,MLCC和芯片打头阵
被动元件涨价启动,MLCC和芯片打头阵

据台媒近日报道,MLCC两大原厂三星电机和TDK近期对一线组装厂客户发出通知,强调高容MLCC供货紧张,即将对其调涨报价。在芯片电阻市场,台厂国巨正式宣布从三月起涨价15-25%。紧接着,华新科也对代理商发出涨价通知,新订单将调涨10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看详情
深圳福田海关查获大批侵权电路板
深圳福田海关查获大批侵权电路板,共计超过39万个

据海关总署微信平台“海关发布”10日发布的消息,经品牌权利人确认,深圳海关所属福田海关此前在货运出口渠道查获的一批共计391500个印刷电路板,侵犯了UL公司的“RU”商标专用权。

2021-03-05 11:12:00
查看详情
可靠性测试:常规的可靠性项目及类型介绍
可靠性测试:常规的可靠性项目及类型介绍

可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。根据可靠性统计试验所采用的方法和目的,可靠性统计试验可以分为可靠性验证试验和可靠性测定试验。可靠性测定试验是为测定可靠性特性或其量值而做的试验,通常用来提供可靠性数据。可靠性验证试验是用来验证设备的可靠性特征值是否符合其规定的可靠性要求的试验,一般将可靠性鉴定和验收试验统称为可靠性验证试验。

2021-04-26 16:17:00
查看详情
产品进行可靠性测试的重要性及目的
产品进行可靠性测试的重要性及目的

产品在一定时间或条件下无故障地执行指定功能的能力或可能性。可通过可靠度、失效率还有平均无故障间隔等来评价产品的可靠性。而且这是一项重要的质量指标,只是定性描述就显得不够,必须使之数量化,这样才能进行精确的描述和比较。

2021-04-26 16:19:00
查看详情
汇总:半导体失效分析测试的详细步骤
汇总:半导体失效分析测试的详细步骤

失效分析是芯片测试重要环节,无论对于量产样品还是设计环节亦或是客退品,失效分析可以帮助降低成本,缩短周期。 常见的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因为失效分析设备昂贵,大部分需求单位配不了或配不齐需要的设备,因此借用外力,使用对外开放的资源,来完成自己的分析也是一种很好的选择。我们选择去外面测试时需要准备的信息有哪些呢?下面为大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看详情
芯片常用失效分析手段和流程
芯片常用失效分析手段和流程

一般来说,集成电路在研制、生产和使用过程中失效不可避免,随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,通过芯片失效分析,可以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数的不匹配或设计与操作中的不当等问题。芯片失效分析的常用方法不外乎那几个流程,最重要的还是要借助于各种先进精确的电子仪器。以下内容主要从这两个方面阐述,希望对大家有所帮助。

2021-04-26 16:41:00
查看详情
值得借鉴!PCB板可靠性测试方法分享
值得借鉴!PCB板可靠性测试方法分享

PCB电路板是电子元件的基础和高速公路,又称印刷电路板,是电子元器件电气连接的提供者。它的发展已有100多年的历史了;它的设计主要是版图设计;采用电路板的主要优点是大大减少布线和装配的差错,提高了自动化水平和生产劳动率。PCB的质量非常关键,要检查PCB的质量,必须进行多项可靠性测试。这篇文章就是对测试的介绍,一起来看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看详情
Baidu
map