半导体分立器件二极管的筛选测试项目
日期：2024-05-13 17:18:11浏览量：57标签:半导体
电子元器件的失效大多数是由于体内和表面的各种物理化学变化所引起，而不管是军用产品还是民用产品，筛选都是保证可靠性的重要手段。本文将探讨半导体分立器件二极管的筛选测试项目，旨在深入了解这些测试项目的重要性以及对产品性能的影响。通过精确的筛选测试，可以确保二极管的一致性和可靠性，为电子设备的正常运行提供稳定的基础。
半导体分立器件二极管筛选测试标准
1.GJB128A-97半导体分立器件试验方法
2.MIL-STD-750D 半导体分立器件试验方法半导体分立器件二极管筛选测试项目
1.高温储存： 锗管100℃、硅管150℃， 96h。
2.温度循环： 锗管-55℃- 85℃，5次; 硅管-55℃~ 125℃，5次。
3.敲变： 用硬橡胶锤敲3 ~ 5次，同时用图示仪监视正向特性曲线。
4.跌落： 在8 0 c m高度，按自由落体到玻璃板上5 ～ 1 5次。
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5.功率老炼：
①开关管：1。5倍额定正向电流，12小时;
②稳压管：1～1。5倍额定功率，12小时 ;
③检波整流管：1～1。5倍额定电流，12小时;
④双基极二极管：额定功率老炼12小时。
6.高温反偏： 锗管700C，硅管1250C ， 额定反向电压2小时，漏电流不超过规范值。
7. 高温测试： 锗管70℃，硅管125℃。
8.低温测试：－55℃。
9.外观检查： 用显微镜或放大镜检查外观质量，剔除玻璃碎裂等有缺陷的管子。电子元器件筛选的目的1.保证元器件的可靠性，选出元器件内部构造品质好、各类焊点焊接质量好、封装无分层等工艺质量好的元器件，
2.发现并剔除在制造、工艺和材料方面的缺陷和隐患
3.区分元器件和返修品、与仿制品、性能良品和次品;
4.暴露使用过程中可能出现的不安全因素，避免造成更大的损失。为什么选择？1. 依据客户产品规格，准确制定元器件的筛选方案和规程。
2. 依据筛选结果，准确定位元器件失效机理，并依据客户需求给出元器件失效分析方案。
3. 军用级检测体系控制，保证测试流程和测试精度，第三方公正检测机构。
4. 元器件一站式检测服务：开云官网手机网页版入口最新 、AEC-Q100、AEC-Q200、失效分析等检测能力。
5. 公司从2007成立实验室以来，专注于元器件检测研发、标准制定、设备升级、元器件数据分析和工艺改进、供应链管理等。
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