冷热冲击试验常用试验方法与标准

日期:2024-04-16 11:38:06浏览量:22标签:冷热冲击试验

冷热冲击试验是一种重要的环境试验方法,用于评估材料和产品在急剧温度变化下的性能和可靠性。这种试验方法在许多行业中都得到广泛应用,包括电子、航空航天、汽车、医疗设备等领域。本文将探讨冷热冲击试验的基本原理、常用的试验方法以及相关的标准。

冷热冲击试验的基本原理

冷热冲击试验通过快速改变试验样品的温度,模拟材料和产品在实际使用中可能遇到的极端温度变化情况,从而评估其性能、可靠性和耐用性。这种试验方法可以帮助制造商发现和解决产品设计中存在的潜在问题,提高产品的质量和可靠性。

冷热冲击试验常用试验方法与标准

常用的试验方法

1.单向冲击试验:样品在规定温度范围内进行多次冲击循环,模拟材料在长时间内受到高温或低温的影响。

2.双向冲击试验:样品在两个极端温度之间交替进行循环,模拟材料在快速温度变化下的性能。

3.温度冲击试验:样品在不同温度环境下进行短暂停留,模拟材料在不同温度下的热膨胀和收缩情况。

相关标准

在进行冷热冲击试验时,通常会参考以下一些行业标准:

1.MIL-STD-810G:美国国防标准,规定了各种环境条件下的试验方法,包括冷热冲击试验。

2.IEC 60068-2-14:国际电工委员会制定的标准,用于评估电子元器件和设备在温度变化下的性能。

3.JIS Z 0237:日本工业标准,针对材料和产品在冷热冲击情况下的性能进行了规定。

4.GB/T 2423.22:中国国家标准,涉及电工电子产品环境试验中的温度试验方法,包括冷热冲击试验。

冷热冲击试验作为一种有效的环境试验方法,对于提高产品的质量和可靠性至关重要。了解常用的试验方法和相关的标准,有助于制造商和研发人员更好地评估产品的性能,改进产品设计,并确保其在极端温度条件下的稳定性和耐用性。通过遵循相应的标准和规范,可以为产品的开发和生产提供可靠的参考依据,同时也有助于产品在市场中获得更多的认可和信任。

相关阅读
五月芯资讯回顾:原厂涨价函不断,疫情影响供应链
五月芯资讯回顾:原厂涨价函不断,疫情影响供应链

刚刚过去的五月,全球多地疫情反弹,大宗商品涨价延续,IC产业链毫无意外,缺货涨价仍是主旋律。下面就来梳理一下过去的一个月,业内都有哪些值得关注的热点。

2021-06-04 11:16:00
查看详情
image
马来西亚管控延长,被动元件又悬了?

自五月以来,马来西亚疫情不断升温,每日新增确诊高峰曾突破9000例。严峻形势之下,马来西亚政府于6月1日开始执行为期半个月的全面行动管制。在这之后,每日新增病例呈现下降趋势。

2021-06-18 15:41:07
查看详情
内存市场翻转,涨价来袭!
内存市场翻转,涨价来袭!

据媒体近日报道,内存正在重回涨价模式,从去年12月到今年1月,涨幅最多的品种已达30%。据行情网站数据,各类内存条、内存颗粒在12月上旬起开始涨价,至今仍没有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看详情
被动元件涨价启动,MLCC和芯片打头阵
被动元件涨价启动,MLCC和芯片打头阵

据台媒近日报道,MLCC两大原厂三星电机和TDK近期对一线组装厂客户发出通知,强调高容MLCC供货紧张,即将对其调涨报价。在芯片电阻市场,台厂国巨正式宣布从三月起涨价15-25%。紧接着,华新科也对代理商发出涨价通知,新订单将调涨10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看详情
深圳福田海关查获大批侵权电路板
深圳福田海关查获大批侵权电路板,共计超过39万个

据海关总署微信平台“海关发布”10日发布的消息,经品牌权利人确认,深圳海关所属福田海关此前在货运出口渠道查获的一批共计391500个印刷电路板,侵犯了UL公司的“RU”商标专用权。

2021-03-05 11:12:00
查看详情
可靠性测试:常规的可靠性项目及类型介绍
可靠性测试:常规的可靠性项目及类型介绍

可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。根据可靠性统计试验所采用的方法和目的,可靠性统计试验可以分为可靠性验证试验和可靠性测定试验。可靠性测定试验是为测定可靠性特性或其量值而做的试验,通常用来提供可靠性数据。可靠性验证试验是用来验证设备的可靠性特征值是否符合其规定的可靠性要求的试验,一般将可靠性鉴定和验收试验统称为可靠性验证试验。

2021-04-26 16:17:00
查看详情
产品进行可靠性测试的重要性及目的
产品进行可靠性测试的重要性及目的

产品在一定时间或条件下无故障地执行指定功能的能力或可能性。可通过可靠度、失效率还有平均无故障间隔等来评价产品的可靠性。而且这是一项重要的质量指标,只是定性描述就显得不够,必须使之数量化,这样才能进行精确的描述和比较。

2021-04-26 16:19:00
查看详情
汇总:半导体失效分析测试的详细步骤
汇总:半导体失效分析测试的详细步骤

失效分析是芯片测试重要环节,无论对于量产样品还是设计环节亦或是客退品,失效分析可以帮助降低成本,缩短周期。 常见的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因为失效分析设备昂贵,大部分需求单位配不了或配不齐需要的设备,因此借用外力,使用对外开放的资源,来完成自己的分析也是一种很好的选择。我们选择去外面测试时需要准备的信息有哪些呢?下面为大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看详情
芯片常用失效分析手段和流程
芯片常用失效分析手段和流程

一般来说,集成电路在研制、生产和使用过程中失效不可避免,随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,通过芯片失效分析,可以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数的不匹配或设计与操作中的不当等问题。芯片失效分析的常用方法不外乎那几个流程,最重要的还是要借助于各种先进精确的电子仪器。以下内容主要从这两个方面阐述,希望对大家有所帮助。

2021-04-26 16:41:00
查看详情
值得借鉴!PCB板可靠性测试方法分享
值得借鉴!PCB板可靠性测试方法分享

PCB电路板是电子元件的基础和高速公路,又称印刷电路板,是电子元器件电气连接的提供者。它的发展已有100多年的历史了;它的设计主要是版图设计;采用电路板的主要优点是大大减少布线和装配的差错,提高了自动化水平和生产劳动率。PCB的质量非常关键,要检查PCB的质量,必须进行多项可靠性测试。这篇文章就是对测试的介绍,一起来看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看详情
Baidu
map