在早期失效阶段,有缺陷的、受污染的或处于临界状态的电子元器件会在这个时期失效而暴露出来。这个阶段时间很短,有的元器件仅几天便会失效,早早地便被淘汰。正常失效期为元器件的正常工作阶段,也是元器件的寿命期限。本文收集整理了一些资料,期望能对各位读者有比较大的参阅价值。
大量同类元器件的失效可以分成三个阶段:
1)早期失效期
新制造的电子器件,刚投入使用一段时间叫做早期失效。早期失效的特点是失效率高,但随着工作时间的增加而迅速降低。这一段的失效原因有的是制造器件的原材料的缺陷造成;有的是元器件的生产过程中工艺措施不当造成的。
总的来说,早期失效是元器件本身设计和制造的缺陷而隐藏在内部的一种潜在故障。在使用中会继续恶化,故障暴露出来而造成的失效。所以元器件的早期失效对使用者来说是十分有害的。在整机生产的工艺过程中,元器的老化筛选的主要目就是加速早期失效,使整机出厂前就进入到正常的使用阶段,筛选掉早期失效的元器件,保证整机的可靠工作。
2)偶然失效期
电子元器件在早期失效器后,就进入到偶然失效期。这一阶段的特点是失效率低而稳定,而表现的是偶然性质。这是元器件最好的工作阶段。因为这一段使用时间长,所以也叫使用寿命期。一个好的集成电路,其偶然失效可达百万小时以上。
在此期间的失效原因,可以看成是在某一时刻元器件所积累的应力(指对器件的功能有影响的各种因素,如温度,电压,电流和机械应力等)超过元器件对抗这些应力的强度。一般有下列三种情况:遭受突然的机械冲击或热冲击引起引线断脱等;因为大电流引起的结的损坏;环境变化超过了适用范围,使元器件特性变化过大而不能工作,甚至失效。
对于上述情况,应从最坏的情况出发,考虑到元器件参数的可能变化的范围进行电路设计,并考虑一些具体措施,如散热通风措施和防电磁干扰措施等,以避免环境变化超过适用范围。
3)损耗失效期
元器件经过正常使用其后,由于老化,损耗,磨损和疲劳等原因,失效率随着工作时间的增加而上升,这一阶段叫做损耗失效期,又叫晚期失效期。
损耗失效主要是由于材料的化学和物理变化引起的,如管子内部引线键合点表面长期氧化而表面氧化使电阻增大,导致热量过大而使键合点开路;又如表面化学反应,改变电子空穴的分布,产生反型层,形成导电沟道,使反向电流增大,参数变坏而使器件失效等。损耗失效是正常的自然规律,表明元器件已到额定使用期,对此采取的措施是定期更换。
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