光电子元器件的可靠性测试怎么做?

日期:2022-11-29 16:08:56浏览量:550标签:可靠性测试

光电子器件是利用光电转换效应制成的各种功能器件,能够实现光信号的产生、信号调制、探测、连接、能量分合、能量增减、信号放大、光电转换、电光转换等功能。光电子器件是光电子技术的关键和核心部件,各行业对光电子元器件的检测是一项必不可少的基础工作。而需要做可靠性检测的产品种类很多,每个行业的检测需求也不同,必须根据不同的元器件采用不同的方法,从而判断元器件的正常与否。那么光电子元器件的可靠性测试怎么做?接下来一起来看看吧。

一、光电子元器件物理特性测试项目

密封性:确定具有内空腔的光电子器件封装的气密性。

可燃性:确定光电子器件所使用材料的可燃性。

可焊性:确定需要焊接的光电子器件引线之可焊性。

引线键合强度:确定光电子器件采用低温焊、热压焊、超声焊等技术的引线键合强度。

光电子元器件的可靠性测试怎么做?

二、光电子元器件机械完整性试验项目

产品运输、使用中难免磕碰,即使被安装在设备上了,也极可能遇到风扇引起的振动。机械冲击和振动就是针对产品可能碰到的各种不佳情况,提前做好预防与筛选工作。

1、机械冲击:确定光电子器件能否适用在需经受中等严酷程度冲击的电子设备中。冲击可能是装卸、运输或现场使用过程中突然受力或剧烈振动所产生的。

2、变频振动:确定在规范频率范围内,振动对光电子器件各部件的影响。

3、热冲击:确定光电子器件,在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用。

4、插拔耐久性:确定光电子器件光纤连接器的插入和拔出,光功率、损耗和反射等参数是否满足重复性要求。

5、存储试验:确定光电子器件能否经受高温和低温下运输和储存。

6、温度循环:确定光电子器件承受极高温度和极低温度的能力,以及极高温度和极低温度交替变化对光电子器件的影响。

7、恒定湿热:确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度。

8、高温寿命:确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命。

三、光电子元器件加速老化试验

在光电子器件上施加高温、高湿和一定的驱动电流进行加速老化。依据试验的结果来判定光电子器件具备功能和丧失功能,及接收和拒收,并可对光电子器件工作条件进行调整和对可靠性进行计算。

1、高温加速老化:加速老化过程中的最基本环境应力是高温。在实验过程中,应定期监测选定的参数,直到退化超过寿命终止为止。

2、恒温试验:恒温试验与高温运行试验类似,应规定恒温试验样品数量和允许失效数。

3、变温试验:变化温度的高温加速老化试验,是定期按顺序逐步升高温度(如60℃、85℃和100℃)。

4、温度循环:除了作为环境应力试验需要对光电子器件进行温度循环外,温度循环还可对管电子器件进行加速老化。

温度循环的加速老化,目的一般不是为了引起特定的性能参数的退化,而是为了提供封装在组件里的光路长期机械稳定性的附加说明。

总结,光器件的可靠性其实是一个很复杂的系统工程。为提高光电子元器件的使用可靠性,须在元器件研发阶段、量产及出厂阶段做好相关可靠性测试、筛选等工作,由研发、生产、采购、质保、体系管理等多方面的参与,才能为提高电子产品可靠性提供坚实的保障。开云全站体育 是一家电子元器件专业检测机构,目前主要提供电容、电阻、连接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成电路检测服务。专精于电子元器件功能检测、电子元器件来料外观检测、电子元器件解剖检测、丙酮检测、电子元器件X射线扫描检测、ROHS成分分析检测。欢迎致电,我们将竭诚为您服务!

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